梅特勒XS系列分析天平


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性能特点

采用分离的称量单元和显示控制单元,避免电子元件散热对称量结果准确性的影响

优化天平适应性的称量参数设置,满足不同称量环境要求

完全可拆卸、清洗的内部和外部玻璃防风罩设计,实现天平的快速清洁

丰富的内置称量应用程序:基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、动态称量

●GWPExcellenceTM一体化安全功能,确保天平始终正确工作

 

触摸屏(TouchScreen:背亮式触摸屏是天平操作更加快速简便。中文界面和图符显示的用户操作指南清晰易懂,帮助您有效节省操作时间。

 

网格秤盘(SmartGird:有效降低称量室中气流对称量的影响,从而缩短稳定时间。称量过程中如果出现差错,样品会直接散落在网格秤盘(SmartGird)下的金属底盘上,因而不会影响称量结果,且不浪费您的样品。

技术参数

型号

最大称量值
[g]

可读性
[mg]

重复性(sd)
[mg]

线性误差
[mg]

典型稳定时间
[s]

秤盘尺寸
(W×D)[mm]

XS105DU

41/120

0.01/0.1

0.02/0.1

0.2

4/1.5

78×73

XS205DU

81/220

0.01/0.1

0.02/0.1

0.2

4/1.5

78×73

XS64

61

0.1

0.1

0.2

1.5

78×73

XS104

120

0.1

0.1

0.2

1.5

78×73

XS204

220

0.1

0.1

0.2

1.5

78×73

XS204DR

81/220

0.1/1

0.1/0.7

0.5

3.5/1.5

78×73

DR=变量程;DU=双量程;sd=标准偏差

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